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        基礎信息Product information
        產品名稱:

        定制雙面探針臺/I-V測試/晶圓和PCB板測試

        產品型號:Huace-8D

        廠商性質:生產廠家

        所在地:北京市

        更新日期:2025-12-17

        產品簡介:

        定制雙面探針臺/I-V測試/晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。

        產品特性Product characteristics
        品牌華測

        雙面探針臺


        雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學,以及多項升級功能??蓮V泛應用于集成電路、Wafer , LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。


        技術參數型號

        Huace-8D雙面探針臺

        臺體

        chuck尺寸

        8英寸

        平旋轉

        卡盤可以360度旋轉,細調精度不大于0.1度,帶有鎖定旋鈕

        XY移動行程

        8英寸*8英寸

        XY移動精度

        10um/1um可選

        樣品固定

        樣品夾定,尺寸可調;真空吸附固定,卡盤多圈吸附環可獨立控制

        雙面點針平臺

        氣動升降平臺升起為雙平臺,落下可做單平臺使用

        平臺針座數量

        單平臺最多放置8個CB-200針座

        卡盤結構

        普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇

        溫控系統

        溫度范圍

        室溫~300℃ (400℃,500℃可選)

        溫控精度

        0.1℃

        溫控穩定性

        ±1℃

        溫控傳感器

        100Ω 鉑電阻傳感器

        正面光學系統

        CCD

        200W/500W/1200W像素可選(正反面)

        顯微鏡類型

        單筒/體視/金相顯微鏡可選

        放大倍率

        16X-100X/20X-2000X

        顯微鏡調節

        水平方向繞立柱旋轉X-Y移動2*2英寸,Z軸行程50.8mm

        光源

        外置LED環形光源/同軸光源

        背面光學系統

        顯微鏡類型

        L型單筒顯微鏡

        連續變倍比

        6.3:1

        放大倍率范圍

        0.75–5X

        放大倍率

        315X(計算公式:變焦*CCD*顯示器)

        顯微鏡調節

        萬向移動

        光源

        同軸光源

        技術參數型號

        臺體配件技術參數

        探針座

        X-Y-Z移動行程

        12*12*12mm

        移動精度

        10/2/0.7/0.5/0.35um可選

        固定方式

        磁力吸附/真空吸附可選

        探針夾具

        線纜

        同軸線/三軸線可

        漏電精度

        10pA/100fA

        探針固定方式

        彈簧固定/管狀固定

        接頭類型

        BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選

        探針

        材質

        鎢鋼/鈹銅可選

        針尖直徑

        0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選

        探針可選配件

        屏蔽箱

        高壓測試配件

        光學防震桌

        射頻測試配件

        鍍金卡盤

        轉接頭

        探針卡夾具

        其他



        公司主營產品:

        功能材料電學綜合測試系統、絕緣診斷測試系統、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統、壓電傳感器測控系統。


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