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        產(chǎn)品中心您當前的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 半導(dǎo)體封裝材料測試系統(tǒng) > Huace-8半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺
        基礎(chǔ)信息Product information
        產(chǎn)品名稱:

        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺

        產(chǎn)品型號:Huace-8

        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

        所在地:北京市

        更新日期:2025-12-17

        產(chǎn)品簡介:

        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺,可用于12英寸以內(nèi)樣品測試;操作便捷,功能其全,高效精準 ;可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

        產(chǎn)品特性Product characteristics
        品牌華測

        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺



        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺特點/應(yīng)用

        ◆ 可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

        ◆ 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動

        ◆ 大手柄驅(qū)動,操作舒適,無回程差設(shè)計

        ◆ 針座平臺快速、微調(diào)升降功能

        ◆ 可搭配多種類型顯微鏡

        ◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

        ◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計,可無縫升級

        ◆ 探針臺可根據(jù)客戶要求定制。


        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺技術(shù)參數(shù)


        臺體規(guī)格

        樣品臺尺寸

        8英寸/12英寸

        水平旋轉(zhuǎn)

        可360°旋轉(zhuǎn),可微調(diào)15°,精度0.1°,帶角度鎖死裝置

        X-Y移動行程

        8英寸×8英寸/12英寸×12英寸

        X-Y移動精度

        10μm/1μm

        樣品固定

        真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)

        針座平臺

        U型針座平臺,zuiduo可放置6個探針座

        背電極測試

        樣品臺電學(xué)獨立懸空,4mm插孔可接背電極

        外形尺寸

        840mm長*600mm寬*700mm高/850mm長*700mm寬*700mm高

        設(shè)備重量

        約20KG/30KG

        光學(xué)系統(tǒng)

        顯微鏡類型

        單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

        放大倍率

        16X-200X/20X-4000X

        移動行程

        X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn),Z軸行程50.8mm

        光源

        外置LED環(huán)形光源/同軸光源

        CCD

        200萬像素/500萬像素/1200萬像素

        定位器

        X-Y-Z移動行程

        12mm*12mm*12mm

        移動精度

        10μm/2μm/0.7μm/0.5μm

        吸附方式

        磁力吸附,真空吸附

        線纜

        同軸線/三軸線

        漏電精度

        10pA/100fA/10fA

        固定探針

        彈簧固定/管狀固定

        接頭類型

        BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

        針尖直徑

        0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm

        針尖材質(zhì)

        鎢鋼;鈹銅


        半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺可選附件:

        加熱臺;
        顯示器;
        轉(zhuǎn)接頭;
        射頻測試配件;

        屏蔽箱;

        光學(xué)平臺;
        鍍金卡盤;
        光電測試配件;

        高壓測試配件;

        顯微鏡快速傾仰裝置;

        激光系統(tǒng);

        探針卡夾具;







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