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        基礎信息Product information
        產品名稱:

        離子遷移(CAF)測試系統

        產品型號:Huace

        廠商性質:生產廠家

        所在地:北京市

        更新日期:2026-03-12

        產品簡介:

        華測儀器離子遷移(CAF)測試系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。

        產品特性Product characteristics
        品牌華測

        華測儀器離子遷移(CAF)測試系統

        價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師


        離子遷移(CAF)測試系統由華測儀器生產,是用于捕捉高溫、高濕、電場等復雜環境下,材料及元器件因離子遷移引發的絕緣電阻劣化過程,準確判斷失效風險,為產品研發、質控及失效分析等提供科學數據支撐,普遍適配電子、汽車、新能源等多行業高可靠性產品的測試需求。


        技術參數

        測量電壓:100 ~ 1500V(可定制)

        測試通道:128通道(可定制至高960通道)

        測試時長:可連續運行1500小時

        測試溫度:85℃(可定制)

        測試濕度:85%(可定制)

        測量范圍:1×105 ~ 1×1015Ω

        極化電壓:100 ~ 1500V(可定制)

        掃描周期:至快2分鐘(128通道)


         產品優勢

        安全與穩定性強:具備緊急停止、過溫切斷加熱斷路器等保護功能,配備防反水加濕水路系統與二級加濕用水過濾保護,既保障操作安全,又延長設備使用壽命;部分型號可選購觀察窗隱私功能,保護試件隱私。

        可定制適配性:支持測試參數、通道數量、環境模擬條件等按需定制,可適配標準樣材、異形件(夾取方式)測試,兼容行業標準,滿足不同行業、不同產品的個性化測試需求。


        離子遷移(CAF)測試系統


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