表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-02-13

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

華測(cè)儀器表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)

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表面電位衰減測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，集高壓極化、準(zhǔn)確溫控、快速信號(hào)采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動(dòng)態(tài)響應(yīng)，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領(lǐng)域的質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。

技術(shù)參數(shù)

充電電源：±30 kV

加熱臺(tái)溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃

控溫精度：± 0.2 ℃

輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ

額定輸出電壓：0～+30kV

額定輸出電流：≤ 1 mA

電壓調(diào)整率：≤ 0.1%

溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃

測(cè)量范圍：0 ~ ±10 kV

穩(wěn)定性：時(shí)間漂移<100 ppm/小時(shí)（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃

應(yīng)用領(lǐng)域

絕緣材料研發(fā)

評(píng)估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；

功能薄膜分析

研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應(yīng)；

半導(dǎo)體器件優(yōu)化

表征柵極介質(zhì)層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性；

科研與教育

高校及實(shí)驗(yàn)室用于電介質(zhì)物理、材料科學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與教學(xué)實(shí)驗(yàn)；

電力設(shè)備質(zhì)檢

檢測(cè)絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預(yù)測(cè)。