高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-09-09

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)

高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品概述：

      系統(tǒng)通過測(cè)量被測(cè)物絕緣各個(gè)頻率下的泄漏電流，利用數(shù)據(jù)模型對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù)，由于模型能夠精確補(bǔ)償溫度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，因此測(cè)試可在任何溫度下進(jìn)行。絕緣電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)可以用于測(cè)量電路或材料在交流信號(hào)作用下的阻抗特性的高精度電子儀器。也可以測(cè)量直流電壓下的阻抗參數(shù)，其基本原理基于交流電路理論，通過向被測(cè)對(duì)象施加一定頻率和幅值的交流電壓（或直流電壓），測(cè)量由此產(chǎn)生的電流（或電壓）響應(yīng)，進(jìn)而計(jì)算得到阻抗值（包括實(shí)部電阻R和虛部電抗X，通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示）。這一過程利用了歐姆定律及相量分析的方法，能夠揭示被測(cè)對(duì)象在不同頻率下的阻抗特性，對(duì)于分析電路性能、材料導(dǎo)電性及評(píng)估元器件質(zhì)量具有重要意義。對(duì)于直流測(cè)量因?yàn)橄到y(tǒng)內(nèi)置高壓功率放大器，也可輸出直流電壓。進(jìn)行絕緣材料的直流電壓下的電阻參數(shù)。

工作原理：

  系統(tǒng)工作原理：工控機(jī)控制FPGA信號(hào)源向高壓功率放大器施加一定頻率和幅值的交流電壓信號(hào)（或直流電壓信號(hào)），高壓功率放大器進(jìn)行放大到測(cè)量所需要的不同頻率的交流或直流電壓，同時(shí)施加在樣品兩端，通過電壓采集模塊測(cè)量實(shí)際電壓。通過電流采集模塊測(cè)量實(shí)際流過的電流。測(cè)量由此產(chǎn)生的電流（或電壓）響應(yīng)，進(jìn)而計(jì)算得到阻抗值（包括實(shí)部電阻R和虛部電抗X，通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示），也可以直接輸出電阻或電導(dǎo)參數(shù)。

產(chǎn)品六大優(yōu)勢(shì)：

寬頻測(cè)試范圍：支持從低頻到高頻的廣泛頻率范圍測(cè)試，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景需求。

高精度測(cè)量：采用先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和算法，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

自動(dòng)掃頻功能：自動(dòng)進(jìn)行多頻點(diǎn)阻抗掃描，提高測(cè)試效率。

實(shí)時(shí)顯示與存儲(chǔ)：實(shí)時(shí)顯示測(cè)試曲線，支持?jǐn)?shù)據(jù)保存與導(dǎo)出，便于后續(xù)分析。

多種測(cè)量模式：流控制等多種測(cè)量模式，適應(yīng)不同測(cè)試要求。

用戶界面友好：直觀的操作界面，簡(jiǎn)化操作流程，降低操作難度。

產(chǎn)品參數(shù)：

端口：INPUT，OUTPUT，采集，通訊，接地

輸出電壓幅值范圍 ：0 ~ 500V（AC\DC），電壓上升速率150V/μs

交流測(cè)試頻率范圍： 1mHz ~ 1KHz

輸出電壓直流偏置： ≤1V

高壓電源內(nèi)部電容：300pF

有效測(cè)量電流范圍：2×10^-13 ~ 2×10^-3A（交流峰值）

測(cè)試絕緣阻抗范圍：5000 ~ 10¹⁵Ω

電流測(cè)量誤差：≤1%

過流保護(hù)啟動(dòng)：交流峰值達(dá)到40mA，5ms

校正：允許現(xiàn)場(chǎng)校正

系統(tǒng)軟件：