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        基礎信息Product information
        產品名稱:

        高低溫真空探針臺/兼容I-V/C-V/R-F測試

        產品型號:

        廠商性質:生產廠家

        所在地:北京市

        更新日期:2025-12-17

        產品簡介:

        高低溫真空探針臺/兼容I-V/C-V/R-F測試,溫度范圍77K-675K(液氮);可應用于真空及常規環境;chao高溫度分辨率;特殊客制低溫系統;具有穩定性

        產品特性Product characteristics
        品牌華測

        Huace HT-11高低溫真空探針臺



        特點/應用

        ◆ 2至6英寸樣品臺

        ◆ 高真空腔體

        ◆ 防輻射屏設計,樣品溫度均勻性更好

        ◆ 77K-675K高低溫環境

        ◆ 兼容IV/CV/RF測試

        ◆ 外置多探針臂,移動行程大

        ◆ 經濟實用,可無縫升級


        極低溫測試:

        因為晶圓在低溫大氣環境測試時,空氣中的水汽會凝結在晶圓上,會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。

        高溫無氧化測試:

        當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時,氧化現象會越來越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。

          晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換,因為熱脹冷縮現象,定位好的探針與器件電極間會有相對位移,這時需要針座的重新定位,針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。

        技術參數

        腔體規格

        樣品臺尺寸

        2英寸/4英寸/6英寸

        樣品固定

        彈簧壓片

        觀察窗口

        2英寸/4英寸/6英寸

        真空度

        10-6torr

        探針臂接口

        4~6個探針臂接口

        其他接口

        電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口

        制冷方式

        液氮/液氦/制冷機

        溫度范圍

        77K到573K/4.5K到573K

        溫控精度

        0.1K/0.01K/0.001K

        穩定性

        ±1K/±0.1K/±0.01K外形

        外形

        880mm長*880mm寬*600mm高/980mm長*980mm寬*600mm高

        重量

        約20KG/30KG

        光學系統

        顯微鏡類型

        單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

        放大倍率

        16X-200X/20X-4000X

        移動行程

        水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm

        光源

        外置LED環形光源/同軸光源

        CCD

        200萬像素/500萬像素/1200萬像素

        探針臂

        X-Y-Z移動行程

        50mm*50mm*50mm

        結構

        外置探針臂,真空波紋管結構

        移動精度

        10微米/1微米

        線纜

        同軸線/三軸線/射頻線

        漏電精度

        10pA/100fA/10fA

        固定探針

        彈簧固定/管狀固定

        接頭類型

        BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

        頻率支持

        DC-67GHZ

        針尖直徑

        0.5微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

        其他組件

        真空組件

        分子泵組/機械泵/離子泵

        冷源組件

        50L/100L液氮罐/液氦罐/制冷機

        可選附件:

        超高溫配件;
        顯示器;
        轉接頭;
        射頻測試配件;

        屏蔽箱;

        光學平臺;
        鍍金卡盤;
        光電測試配件;

        高壓測試配件;

        分子泵組;

        激光系統;

        氣敏測試配件;





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